HI-SCAN 6040aTiX
Inspección de rayos X PEQUEÑA
Sistema de inspección por rayos X
Características destacadas
- Análisis de densidad y Zeff utilizando múltiples vistas independientes
- Concepto de funcionamiento ergonómico y probado
- La tecnología de vista múltiple proporciona imágenes detalladas de alta resolución
- Generador de rayos X con espectro optimizado
- Tecnología de sensor XADA de alta resolución
- Certificado ECAC