HI-SCAN 6040aTiX

Inspección de rayos X PEQUEÑA

Sistema de inspección por rayos X

Características destacadas

  • Análisis de densidad y Zeff utilizando múltiples vistas independientes
  • Concepto de funcionamiento ergonómico y probado
  • La tecnología de vista múltiple proporciona imágenes detalladas de alta resolución
  • Generador de rayos X con espectro optimizado
  • Tecnología de sensor XADA de alta resolución
  • Certificado ECAC